產(chǎn)品介紹
該儀器用于測試薄膜材料熱物性參數(shù)。薄膜物理指出當(dāng)物體很薄時(shí),同樣材料薄膜狀態(tài)的物性與容積狀態(tài)的物性不一定相同,因此對薄膜物性的測量須在薄膜狀態(tài)下進(jìn)行。根據(jù)物體表面溫度按余弦(或正弦)規(guī)律變化時(shí)的瞬態(tài)實(shí)驗(yàn)?zāi)P汀2捎脺囟炔ǚ▉頊y試薄膜材料的熱物性參數(shù),由于薄膜是有限厚的一維模型。在這一狀態(tài)下,當(dāng)溫度振蕩頻率達(dá)到一定值后,利用樣品上、下表面溫度的相位差計(jì)算導(dǎo)溫系數(shù)或?qū)嵯禂?shù)。儀器專用于研究薄膜材料熱物性特性。
主要技術(shù)參數(shù):
1.導(dǎo)熱系數(shù)范圍:0.05~20w/m·k
2.儀器實(shí)現(xiàn)數(shù)字化測溫,精度優(yōu)于0.2級。
3.測量結(jié)果,準(zhǔn)確度±3%
4.計(jì)量加熱功率可調(diào)節(jié)±1%。
5.試樣尺寸要求:圓柱體¢15--30*5--30mm.
6.溫度和保護(hù)氣氛按用戶要求定制。
7.配接計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)全自動測試分析。